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人工晶狀體曲率半徑測(cè)試儀是一款專門用于測(cè)量人工晶狀體表面曲率半徑的干涉儀，具有極大的實(shí)用性和高精度的特點(diǎn)，可以按照用戶產(chǎn)品的實(shí)際外形定制夾具以達(dá)到大測(cè)量效率。
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